X-200 XRF 分析仪
主力军。 我们的 X-200 XRF 分析仪是高性能和极具吸引力的价格的完美结合。
X-200 的速度和性能堪比甚至超越其他品牌的高端分析仪。它采用性能卓越的 SDD 探测器，并结合了高度优化的 X 射线管和探测器几何结构。凭借其快速、卓越的分析性能以及轻巧、小巧的外形设计，X-200 正迅速成为废料处理和无损检测的首选。它可快速分析包括铝合金在内的所有合金系列。对于采矿应用，它提供用于环境、探路、勘探和采矿的一系列元素。其他可用的应用程序包括环境土壤、RoHS、贵金属、汽车催化剂、涂料，以及 SciAps Empirical App，适用于想要测试其他类型材料并生成自定义校准模型的用户。分析仪可使用基本参数、康普顿归一化（EPA 方法 6200）或用户自定义的经验校准进行出厂校准。
X射线管：40 kV，Rh阳极（合金）或50 kV Au阳极（采矿、土壤、RoHS、其他）。
侦测率： 20 mm2 标准 SDD 和 DPP。 125k cps，> 90% 实时。
金属与合金
不锈钢、高温金属和红色金属的基本分类。 仅按 MLC、2000 和 7000 对铝合金进行分类。
地球化学与土壤
地球化学应用程序可用于环境、探路、勘探和采矿的元素套件。
RoHS
快速、精确地分析 RoHS 元素 Pb、Hg、Cd、Br 和 Cr。还包括其他受限材料以及无卤素材料。
标准元件包
X-200 的标准元件包如下表所示。需要其他元件吗？ 只是问问！ 我们经常为特定应用程序添加或替换元素。
RoHS 和限用物质
五光束分析，适用于所有元素和材料类型的终极性能
元素优化
（还包括 Cl、Ca、Ti、Cr、Fe、Ni、Cu、Zn、As、Se、Br、Zr、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba、Hg、Pb）
（还包括 Cl、Ca、Ti、Cr、Fe、Ni、Cu、Zr）
元素优化
（还包括 Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、W、Hg、As、Se、Au、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag）
（还包括 Ti、V、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、W、Au、Zr、Nb、Mo）
重量
3.1 磅（含电池）
激发源
5 W X射线管。最大50 kV，最大200 uA，Rh或Au阳极取决于应用
校准
基本参数。对于采矿和环境土壤应用，用户还可以选择“康普顿归一化”方法和/或使用经验得出的校准。
尺寸
9.38 x 11.15 x 3.34英寸（238 x 283 x 84毫米）
探测器
20mm2 硅漂移探测器（活性区域），140Mn K-alpha 线处 FWHM 分辨率 <5.95eV。
校准检查
内部快门也是 316 不锈钢，用于全自动校准和能量标度验证。
电力
板载可充电锂离子电池，可在设备内部或使用外部充电器充电，交流电源，热插拔能力（最长 60 秒插拔时间）。
X 射线过滤
用于光束优化的 6 位滤光轮。
环境温度范围
在 10% 占空比下，温度为 130F 至 12F（-54C 至 25C）。
屏 显：
3.5 英寸（89 毫米）彩色电容式触摸屏 - 400 MHz Qualcomm Adreno 306 2D/3D 图形加速器。
处理电子主机处理器
1.2GHz ARM Cortex-A53 四核处理器，64/32 位。内存：2GB LPDDR3。存储：16GB eMMC。
安保防护
密码保护使用（用户级别）和内部设置（管理员）。
通讯/数据传输
Wi-Fi、蓝牙和 USB 连接，可连接大多数设备，包括 SciAps Profile Builder PC 软件。支持 GPS。提供云数据管理选项。
脉冲处理器
数字化速率为 14 MSPS 的 80 位 ADC 8K 通道 MCA USB 2.0 用于高速数据传输至主机处理器 在 FPGA 中实现数字滤波以实现高吞吐量脉冲处理 50nS – 24uS 峰值时间
监管
CE、RoHS、USFDA 注册、加拿大 RED 法案。
